SJ-410小型表面粗糙度儀
關(guān)于日本奧林巴斯：
日本三豐Mitutoyo公司自一九三四年創(chuàng)業(yè)以來，以“質(zhì)量*”為宗旨，向范圍的廣大市場(chǎng)提供千分尺、卡尺等量具以及三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)、形狀測(cè)量系統(tǒng)、視像測(cè)量系統(tǒng)及光學(xué)儀器等系統(tǒng)精密測(cè)量?jī)x，長(zhǎng)期以來深受廣大用戶的喜愛和支持?，F(xiàn)今，更有幸作為精密測(cè)量?jī)x的綜合制造商和世界*品牌的擁有者向社會(huì)作出貢獻(xiàn)。
●配備大型觸摸屏彩色液晶顯示器，實(shí)現(xiàn)直 觀操作和易用性。
●根據(jù)測(cè)量條件，在有軌測(cè)量和無軌測(cè)量方 式間切換，以進(jìn)行優(yōu)化評(píng)估。
●寬范圍、高分辨力檢出器和驅(qū)動(dòng)器在同類 產(chǎn)品中能完成更高精度的測(cè)量。
檢出器
- 測(cè)量范圍: 800µm
- 分辨力: 0.0001µm (選擇范圍8µm)
驅(qū)動(dòng)器
- 直線度 / 驅(qū)動(dòng)長(zhǎng)度: 0.3µm/25mm (SJ-411)
- 直線度 / 驅(qū)動(dòng)長(zhǎng)度: 0.5µm/50mm (SJ-412)
●使用收集到的點(diǎn)群數(shù)據(jù)分析表面粗糙度， 也可簡(jiǎn)易地進(jìn)行輪廓形狀解析(階差、階差 量、面積、坐標(biāo)差)?？蓪?duì)在輪廓形狀測(cè)量 機(jī)上不能分析的細(xì)微形狀進(jìn)行分析。
●可用無軌測(cè)量進(jìn)行周向表面粗糙度評(píng)定， 并支持R表面補(bǔ)償功能。
●除了JIS標(biāo)準(zhǔn)(2001/1994/1982)，還符合 ISO標(biāo)準(zhǔn)和ANSI/ VDA標(biāo)準(zhǔn)。
●完成了臺(tái)式表面粗糙度測(cè)量?jī)x及簡(jiǎn)易支座 和相關(guān)可選配件的性能。
SJ-410系列粗糙度儀測(cè)量范圍：
X軸（檢出部） 25mm 50mm
Z軸（檢出部） 800μm、80μm、8μm
*選配測(cè)頭zui大可到2,400μm
檢出器
檢出方式差動(dòng)電感方式
分辨率
0.01μm（800μm范圍）
0.001μm（80μm范圍）
0.0001μm（8μm范圍）
測(cè)頭尖形狀（角度/半徑） 60o/2μm 90o/5μm 60o/2μm 90o/5μm
測(cè)力0.75mN 4mN 0.75mN 4mN
彎曲半徑40mm
檢測(cè)方法無軌式/有軌式（切換）
驅(qū)動(dòng)部（X軸）
測(cè)量速度0.05、0.1、0.2、0.5、1.0mm/s
驅(qū)動(dòng)速度0.5、1、2、5mm/s
直線度0.3μm / 25mm 0.5μm / 50mm
上下傾斜單元
上下移動(dòng)量10mm
傾斜角度±1.5o
對(duì)應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)JIS1982 / JIS1994 / JIS2001 / ISO1997 / ANSI / VDA
參數(shù)Ra, Rq, Rz, Ry, Rp, Rv, Rt, R3z, Rsk, Rku, Rc, RPc, RSm, Rmax*1, Rz1max*2, S, HSC, RzJIS*3, Rppi, RΔa, RΔq, Rlr, Rmr, Rmr（c）,
Rσc, Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2, A1, A2, Vo, λa,λq, Lo, Rpm, tp*4, Htp*4, R, Rx, AR, W, AW, ,自定義設(shè)置
首頁 > 產(chǎn)品展示 > 日本三豐 Mitutoyo > 三豐粗糙度儀 > SJ-410小型表面粗糙度儀
日本三豐 Mitutoyo
三豐粗糙度儀
點(diǎn)擊放大