英國(guó)雷尼紹測(cè)頭探針 Renishaw代理

40多年來(lái)，雷尼紹在工業(yè)測(cè)量領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)了許多具有里程碑意義的創(chuàng)新，從*的觸發(fā)式測(cè)頭和機(jī)動(dòng)重復(fù)定位測(cè)座，到可重復(fù)的測(cè)針交換和模塊掃描系統(tǒng)，雷尼紹用于坐標(biāo)測(cè)量機(jī) (CMM) 的創(chuàng)新型傳感器均符合行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。

雷尼紹提供各種類(lèi)型的測(cè)頭系統(tǒng)，以更好地滿(mǎn)足具體的應(yīng)用需求。上海篤摯儀器專(zhuān)業(yè)代理雷尼紹各種探頭測(cè)針及光柵傳感器等，原裝真品，現(xiàn)貨供應(yīng)，歡迎選購(gòu)！

觸發(fā)式測(cè)頭

雷尼紹提供品種齊全、具有理想性?xún)r(jià)比的系統(tǒng)，既可在手動(dòng)坐標(biāo)測(cè)量機(jī)上進(jìn)行簡(jiǎn)單的性能檢測(cè)，也可在數(shù)控高速機(jī)器上進(jìn)行復(fù)雜輪廓測(cè)量。

觸發(fā)式測(cè)頭測(cè)量離散的點(diǎn)，是檢測(cè)三維幾何工件的理想選擇。

雷尼紹提供品種齊全、具有理想性?xún)r(jià)比的系統(tǒng)，既可在手動(dòng)坐標(biāo)測(cè)量機(jī)上進(jìn)行簡(jiǎn)單的性能檢測(cè)，也可在數(shù)控高速機(jī)器上進(jìn)行復(fù)雜輪廓測(cè)量。

測(cè)針模塊交換

TP20和TP200測(cè)頭具有測(cè)針模塊交換功能，可提高生產(chǎn)率，并為您提供理想的測(cè)量應(yīng)用系統(tǒng)。

• 減少循環(huán)時(shí)間 — 模塊交換時(shí)間約為6秒，相比之下手動(dòng)交換需要1分鐘（還有重新標(biāo)定時(shí)間）
• XY平面碰撞保護(hù)裝置 — 測(cè)針模塊在發(fā)生碰撞時(shí)會(huì)分離
• 模塊可以安全地存放在交換架上

掃描測(cè)頭

掃描測(cè)頭每秒能夠采集幾百個(gè)表面點(diǎn)，可以測(cè)量輪廓、尺寸和位置。

掃描測(cè)頭也可用于采集離散點(diǎn)，與觸發(fā)式測(cè)頭類(lèi)似。

雷尼紹提供了一系列解決方案，供各種尺寸和配置的坐標(biāo)測(cè)量機(jī)選用。

掃描原理

掃描測(cè)量提供了一種從規(guī)則型面工件或其他復(fù)雜工件上高速采集形狀和輪廓數(shù)據(jù)的方法。

觸發(fā)式測(cè)頭可采集表面離散點(diǎn)，而掃描系統(tǒng)則可獲取大量的表面數(shù)據(jù)，提供更詳細(xì)的工件形狀信息。因此，在實(shí)際應(yīng)用中如果工件形狀是整個(gè)誤差預(yù)算的重要考量因素或必須對(duì)復(fù)雜表面進(jìn)行檢測(cè)，掃描測(cè)量可謂理想之選。

掃描需要根本不同的傳感器設(shè)計(jì)、機(jī)器控制和數(shù)據(jù)分析方法。

雷尼紹掃描測(cè)頭*特色的輕巧無(wú)電源機(jī)構(gòu)（無(wú)馬達(dá)或鎖定機(jī)構(gòu)），具有高固有頻率，適合高速掃描測(cè)量。分離的光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)直接（無(wú)需通過(guò)測(cè)頭機(jī)構(gòu)中的疊加軸）測(cè)量測(cè)針的偏移量，以獲得更高的精度和更快的動(dòng)態(tài)響應(yīng)。