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  DUALSCOPE MP40+EDX10探頭測(cè)量雙層涂層

  DUALSCOPE MP40+EDX10探頭測(cè)量雙層涂層 DUALSCOPE®MP40E-S是一款操作簡(jiǎn)便的鍍層厚度測(cè)量和靈活的數(shù)據(jù)采集設(shè)備。DUALSCOPE MP40用EDX10探頭測(cè)量雙層（鐵上的漆層或漆層/鋅層）。MP40在一個(gè)類(lèi)似于MP20的手持式儀器中結(jié)合了磁感應(yīng)和渦流兩種方法。

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